テストソリューション

カードテストツール

非接触試験ステーション(CTS)III

CTS IIIで成功への道のりを加速させましょう

非接触試験ステーション(CTS)III

NFCテストを最適化し、適合性評価を迅速化する

CTS IIIは、NFCテストにおいてこれまでにないハードウェアリソースを組み合わせた製品です。最高性能のFPGAと業界最高水準のコンバータを搭載しており、お客様の生産性向上を強力にサポートします。

このツールは、前世代のNFCテストプラットフォームと比較して、ユーザーの生産性を向上させます。ベンチマークの結果によると、EMVCo L1 PCDアナログテストキャンペーンにおいて、テスト時間が最大80%短縮されています。

新しいNFC信号生成機能により、設計の理解の限界をさらに押し広げます。ノイズ、クロストーク、オーバーシュート、その他すべてのパラメータのシミュレーションを、必要に応じて実行できます。

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主なメリット

  • 業務効率と生産性を向上させましょう。
  • 検証作業において、NFCテストの革新の限界を押し広げましょう。
  • 小型で軽量なツールを使って、快適にテストを行えます。
  • 主要な規格、EMVCoおよびNFC Forumに準拠しています。

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ソリューションの概要とその機能について詳しく知りたい場合は、製品シートをダウンロードしてください。

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