测试解决方案

卡片测试工具

非接触式测试站(CTS)III

借助 CTS III,加速您的成功之路

非接触式测试站(CTS)III

优化NFC测试,加快符合性验证

CTS III 集成了 NFC 测试中前所未有的硬件资源组合。凭借最强大的 FPGA 和业界领先的转换器,它能有效提升您的工作效率。

与上一代NFC测试平台相比,该工具提高了用户的工作效率。基准测试显示,在EMVCo L1 PCD模拟测试中,测试时间缩短了高达80%。

全新的NFC信号生成功能将突破您设计理解的极限。可按需对噪声、串扰、过冲以及所有其他参数进行仿真。

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主要优势

  • 提高您的工作效率和生产力。
  • 在验证过程中,不断突破NFC测试创新的极限。
  • 使用这款小巧轻便的工具,轻松进行测试。
  • 符合主要标准,包括 EMVCo 和 NFC Forum。

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