テストソリューション

通信用テストツール

eSIM-in-Deviceプロファイルテスター

取り外し不可能なeSIM内のeSIMプロファイルの内容を検証する

eSIM-in-Deviceプロファイルテスター

取り外し不可能なeSIMプロファイルを迅速にスキャンし、相互運用性およびBAPテストの検証を行う

取り外し不可能なeSIMが業界標準となるにつれ、MNO、MVNO、OEM、およびeUICCベンダーは、デバイス内に搭載されたeSIM上のeSIMプロファイルを検証する必要があります。

「eSIM-in-Device Profile Tester」は、取り外し不可型eSIM(NRe)にプロファイルが正しくインストールされていることを検証するために設計されたツールであり、別名「取り外し不可型eSIM BAPテスト」とも呼ばれます。

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主なメリット

  • eSIMプロファイルをスキャンし、セルラーモデムと、はんだ付けされたNReプロファイルまたは内蔵型eSIM(iSIM)プロファイルとの間の相互運用性の問題をデバッグする
  • 専用のユーザーインターフェースを使用してテストプロファイルを作成する
  • MNO、MVNO、M2Mサービスプロバイダー、OEM、およびeSIMベンダーは、あらゆるデバイスにおいて、アクセスできないSIMや有効化されたeSIMプロファイルのBAPテストを行うことができます。
  • CSIM、CRSM、またはCGLAを使用してATコマンドに対応するあらゆるデバイス用セルラーモデムと連携し、ファイルシステムを表示したり、独自のテストプロファイルを作成したりできます。

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ソリューションの概要とその機能について詳しく知りたい場合は、製品シートをダウンロードしてください。

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