테스트 솔루션

통신 테스트 장비

기기 내장형 eSIM 프로파일 테스터

제거할 수 없는 eSIM 내 eSIM 프로필의 내용 검증

기기 내장형 eSIM 프로파일 테스터

제거 불가능한 eSIM 프로필을 신속하게 스캔하고 상호 운용성 및 BAP 테스트를 위해 검증합니다.

제거 불가능한 eSIM이 업계 표준으로 자리 잡음에 따라, 이동통신사(MNO), 가상 이동통신사(MVNO), OEM 및 eUICC 공급업체는 기기 내부의 eSIM에 대한 eSIM 프로파일을 검증해야 합니다.

‘eSIM-in-Device 프로파일 테스터’는 탈착 불가능한 eSIM(NRe)에 프로파일이 올바르게 설치되었는지 검증하기 위해 설계된 도구로, 일명 ‘탈착 불가능한 eSIM BAP 테스트’라고도 합니다.

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주요 장점

  • eSIM 프로파일을 스캔하여 셀룰러 모뎀과 납땜형 NRe 또는 내장형 eSIM(iSIM) 프로파일 간의 상호운용성 문제를 디버깅하십시오.
  • 전용 사용자 인터페이스를 사용하여 테스트 프로필을 생성합니다.
  • MNO, MVNO, M2M 서비스 제공업체, OEM 및 eSIM 공급업체는 모든 기기에서 접근할 수 없는 SIM 또는 활성화된 eSIM 프로필에 대해 BAP 테스트를 수행할 수 있습니다.
  • CSIM, CRSM 또는 CGLA를 사용하여 AT 명령을 지원하는 모든 기기의 셀룰러 모뎀과 연동되어 파일 시스템을 확인하고 사용자만의 테스트 프로필을 생성할 수 있습니다.

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해당 솔루션과 그 기능에 대한 전체적인 개요를 확인하려면 제품 설명서를 다운로드하십시오.

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