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Station d'essai sans contact (CTS) III

Accélérez votre chemin vers la réussite avec CTS III

Station d'essai sans contact (CTS) III

Optimiser les tests NFC pour une validation plus rapide de la conformité

Le CTS III réunit des ressources matérielles jamais utilisées auparavant dans le domaine des tests NFC. Grâce à ses FPGA les plus puissants et à ses convertisseurs de pointe, il vous aide à optimiser votre productivité.

Cet outil permet d'accroître la productivité des utilisateurs par rapport à la génération précédente de plateformes de test NFC. Les tests de performance montrent une réduction du temps de test pouvant atteindre 80 % pour une campagne de tests analogiques PCD de niveau 1 (L1) conforme à la norme EMVCo.

Les nouvelles fonctionnalités de génération de signaux NFC repoussent les limites de la compréhension de votre conception. La simulation du bruit, de la diaphonie, des dépassements et de tous les autres paramètres est disponible à la demande.

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Principaux avantages

  • Améliorez votre efficacité et votre productivité.
  • Repoussez les limites de l'innovation en matière de tests NFC lors de la validation.
  • Réalisez vos tests en tout confort grâce à un outil compact et léger.
  • Respecter les principales normes, notamment celles de l'EMVCo et du NFC Forum.

En savoir plus

Téléchargez la fiche produit pour obtenir un aperçu complet de la solution et de ses fonctionnalités.

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