測試解決方案

卡片測試工具

非接觸式測試站 (CTS) III

借助 CTS III,加速邁向成功的旅程

非接觸式測試站 (CTS) III

優化 NFC 測試,以加快符合性驗證

CTS III 整合了 NFC 測試領域前所未見的硬體資源。憑藉最強大的 FPGA 及業界頂尖的轉換器,它能有效提升您的生產力。

與上一代 NFC 測試平台相比,此工具能提升使用者的生產力。基準測試顯示,在執行 EMVCo L1 PCD 模擬測試專案時,測試時間最多可縮短 80%。

全新的 NFC 訊號產生功能,將突破您設計理解的極限。可依需求進行雜訊、串音、過衝及其他所有參數的模擬。

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主要優勢

  • 提升您的效率與生產力。
  • 在驗證過程中,突破 NFC 測試創新的極限。
  • 使用這款小巧輕便的工具,輕鬆進行測試。
  • 符合主要標準,包括 EMVCo 及 NFC Forum。

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